所属单位：材料科学与工程学院

发表刊物：工业建筑

关键字：中文关键字：小晶片；大折射角斜探头；等效试块；距离－波幅曲线，英文关键字：little wafer ； refraction tilted ultrasonic emitte

摘要：针对用小晶片、大折射角斜探头，CSK-ⅠC网架试块探测厚壁（如15mm以上）钢网架焊缝内部质量时，绘制距离波幅曲线深度范围受到限制的问题，通过试验及理论分析，科学确定CSK-IC网架试块的等效试块，用等效试块绘制厚壁钢网架小晶片、大折射角斜探头探伤距离－波幅曲线，正确的评定二次波在厚壁钢网架焊缝中检测到的缺陷。

备注：杨晓东

第一作者：杨晓东

论文类型：期刊论文

卷号：卷：33

期号：期：357

页面范围：页：242～244

是否译文：否

发表时间：2003-09-01